紅外溫度計能正確診斷設備故障紅外溫度計能正確診斷設備故障紅外溫度計能正確診斷設備故障
設備故障紅外診斷嘴核心問題,要求準確獲得待測設備的溫度分布或故障相關點的溫度值和溫度增值。該溫度信息不僅是判斷設備是否有故障的依據(jù),也是判斷故障屬性、位置和嚴重程度的客觀依據(jù)。因此,被測設備故障相關部位溫度的計算和合理校正是提高被測設備表面溫度精度的關鍵環(huán)節(jié)。然而,當設備的紅外檢測在現(xiàn)場進行時,由于檢測條件和環(huán)境的變化,由于不同的檢測條件,對于相同的設備可能獲得不同的結果。因此,為了提高紅外探測的準確性,有必要在現(xiàn)場探測過程中或探測結果的分析和處理中采取相應的對策和措施,或選擇良好的探測條件,或對探測現(xiàn)場結果進行合理的修正。一般來說,我們需要根據(jù)以下條件和影響具體應用紅外溫度計:
電氣設備運行狀態(tài)的影響:
電氣設備故障一般是由電流效應(導電回路故障-加熱功率與負載電流值的平方成正比)和電壓效應(絕緣介質故障-加熱功率與運行電壓的平方成正比)引起的加熱故障。因此,設備的工作電壓和負載電流將直接影響紅外檢測和故障診斷的效果。泄漏電流的增加會導致高壓設備的局部電壓不均勻。如果沒有負載運行或負載很低,會使設備故障發(fā)熱不明顯,即使有嚴重故障,也不可能由于特征熱異常的形式而暴露出來。只有當設備在額定電壓下運行,負載較高時,發(fā)熱和溫升才更嚴重,故障點的特征熱異常也更明顯。這樣,為了在紅外檢測期間獲得可靠的檢測效果,設備應盡可能在額定電壓和滿負荷下運行。即使不能實現(xiàn)連續(xù)滿負荷運行,也應制定運行方案,使設備在檢測前和檢測過程中能滿負荷運行一段時間,使設備故障部位有足夠的加熱時間,設備表面能達到穩(wěn)定的溫升。在電氣設備故障的紅外診斷中,故障判斷標準通常是基于設備在額定電流下的溫升。因此,當檢測期間實際運行電流小于額定電流時,現(xiàn)場實際測量的設備故障點的溫升應轉換為額定電流的溫升。
設備表面紅外測量儀通過測量電氣設備表面的紅外輻射功率獲得設備溫度信息。在紅外診斷儀從目標接收相同紅外輻射功率的情況下,由于目標表面發(fā)射率不同,會得到不同的檢測結果。換句話說,在相同的輻射功率下,發(fā)射率越低,顯示的溫度越高。因為物體的表面發(fā)射率主要由材料性質和表面狀態(tài)(如表面氧化、涂層材料、粗糙度和臟狀態(tài)等)決定。)。因此,為了使用紅外測量儀器準確測量電氣設備的溫度,需要知道被測目標的發(fā)射率值,并將該值作為計算溫度的重要參數(shù)輸入計算機或調節(jié)紅外測量儀器的ε。校正值用于校正測量溫度輸出值的發(fā)射率。消除發(fā)射率對檢測結果影響的兩種對策:用紅外溫度計測量時,應對發(fā)射進行校正,找出被測設備部件表面的發(fā)射率值,并進行發(fā)射率校正,以獲得可靠的溫度測量結果,提高檢測可靠性;對于紅外探測到的易故障設備部件,為了使探測結果具有良好的可比性,可以通過應用適當?shù)耐苛蟻硖岣吆头€(wěn)定發(fā)射率值,從而獲得被測設備表面的真實溫度。
大氣衰減的影響:
待測電氣設備表面的紅外輻射能量通過大氣傳輸?shù)郊t外探測儀器,受到大氣成分中水蒸氣、二氧化碳、一氧化碳等氣體分子吸收衰減和空氣中懸浮粒子散射衰減的影響。
設備輻射能量傳輸?shù)乃p會隨著檢測儀器與被測設備之間的距離而降低被測設備的輻射透射率,因此衰減隨著距離的增加而增加。由于紅外儀器接收到的目標能量的減少,降低被檢測設備的故障部分和正常部分之間的輻射對比度也將導致紅外儀器顯示的溫度低于被檢測故障點的實際溫度值,從而導致漏檢或錯誤診斷,特別是當檢測具有低溫上升的設備故障時。隨著探測距離的增加,大氣成分的影響將越來越大。這樣,為了獲得目標溫度的準確性,有必要在測量時選擇干燥清潔的季節(jié)進行測試。在不影響安全的情況下,應盡可能縮短檢測距離。同時,為了測量實際溫度值,應對溫度測量結果進行合理的距離校正。
氣象條件的影響:
惡劣的氣象環(huán)境(雨、雪、霧、大風等)。)會給設備溫度檢測帶來不利影響,并且經(jīng)常會產(chǎn)生錯誤的故障現(xiàn)象。為了減少氣象條件的影響,試驗應在無雨、無霧、無風和環(huán)境溫度相對穩(wěn)定的夜間進行。
環(huán)境和背景輻射的影響:
在室外電力設備的紅外探測過程中,探測儀器接收到的紅外輻射不僅包括待測設備相應部分發(fā)出的輻射,還包括設備其他部分和背景的反射,以及直接入射的太陽輻射。這些輻射會干擾設備待測零件的溫度,并給故障檢測帶來誤差。為了減少環(huán)境和背景輻射的影響,室外電氣設備現(xiàn)場紅外檢測應在陰天或無光的晚上進行。這可以防止太陽輻射的直接入射、反射和散射;對于室內(nèi)設備,請關閉照明并避免其他輻射的影響。對于高反射設備的表面,應采取適當措施減少對太陽輻射和周圍高溫物體輻射的影響,或改變檢測角度,找到較大的角度,避免反射進行檢測。為了減少太陽輻射和周圍高溫背景的輻射效應,在探測時應采取適當?shù)钠帘未胧?,或者在紅外測量儀器上安裝適當?shù)募t外濾光片,以濾除太陽輻射和其他背景輻射。選擇具有適當參數(shù)和檢測距離的儀器進行檢測,使被測設備的部分在儀器視野范圍內(nèi),從而減少背景輻射的干擾。
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